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  • DR-H202-34000大型步入式試驗(yàn)室
    DR-H202-34000大型步入式試驗(yàn)室

    大型步入式試驗(yàn)室是一種能夠容納較大物體或多個(gè)測試樣品的溫濕度控制空間。相比于普通的步入式試驗(yàn)室,它具有更大的尺寸和容量,適用于進(jìn)行大型物體或批量樣品的溫濕度性能測試與環(huán)境模擬。能夠容納較大尺寸的物體或同時(shí)測試多個(gè)樣品。這使得它適用于測試大型產(chǎn)品、設(shè)備或批量樣品,并提供足夠的工作空間供人員操作和觀察。通過精確的傳感器和控制裝置,可以準(zhǔn)確地控制和調(diào)整溫濕度參數(shù),以滿足特定的測試要求。

    更新時(shí)間:2024-10-14型號:DR-H202-34000瀏覽量:414
  • DR-H202-26000航天設(shè)備步入式高低溫試驗(yàn)室
    DR-H202-26000航天設(shè)備步入式高低溫試驗(yàn)室

    航天設(shè)備步入式高低溫試驗(yàn)室可以用于對各種物體進(jìn)行溫度性能測試和環(huán)境適應(yīng)性評估??捎糜跍y試電子產(chǎn)品(如計(jì)算機(jī)、手機(jī)、電視等)在不同溫度條件下的性能。這包括測試電子設(shè)備的工作溫度范圍、溫度對電路穩(wěn)定性和功能的影響等。用于測試航空航天設(shè)備(如飛機(jī)零部件、衛(wèi)星設(shè)備等)在惡劣溫度條件下的性能和可靠性。這有助于評估航空航天設(shè)備在不同飛行環(huán)境下的適應(yīng)性。

    更新時(shí)間:2024-10-14型號:DR-H202-26000瀏覽量:461
  • DR-H202-13000芯片恒溫恒濕老化實(shí)驗(yàn)室
    DR-H202-13000芯片恒溫恒濕老化實(shí)驗(yàn)室

    芯片恒溫恒濕老化實(shí)驗(yàn)室是一種專門用于模擬恒定溫度和濕度環(huán)境下對芯片進(jìn)行老化測試的設(shè)施。其主要功能是評估芯片在恒溫恒濕條件下的性能和可靠性,以驗(yàn)證其在實(shí)際使用中的穩(wěn)定性和耐久性。長時(shí)間測試:芯片恒濕老化實(shí)驗(yàn)室通常需要進(jìn)行長時(shí)間的測試,以模擬芯片在恒溫恒濕條件下的長期使用情況。這有助于檢測芯片在不同溫濕度環(huán)境下的性能衰減和故障概率。

    更新時(shí)間:2024-10-14型號:DR-H202-13000瀏覽量:454
  • DR-H202-13000集成電路高溫恒溫老化房
    DR-H202-13000集成電路高溫恒溫老化房

    電路高溫恒溫老化房還應(yīng)具備安全措施,以確保試驗(yàn)人員和設(shè)備的安全。這可能包括防火、排氣系統(tǒng)、溫度異常報(bào)警系統(tǒng)等。通過使用集成電路高溫恒溫老化房,集成電路制造商和研發(fā)機(jī)構(gòu)可以更好地了解其產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的表現(xiàn),并采取相應(yīng)措施改進(jìn)設(shè)計(jì)和提高可靠性。這對于保證集成電路產(chǎn)品的品質(zhì)和壽命非常重要。

    更新時(shí)間:2024-10-14型號:DR-H202-13000瀏覽量:473
  • DR-H202-12000醫(yī)用電子設(shè)備低溫老化試驗(yàn)室
    DR-H202-12000醫(yī)用電子設(shè)備低溫老化試驗(yàn)室

    醫(yī)用電子設(shè)備低溫老化試驗(yàn)室是一種用于模擬惡劣溫度條件下物質(zhì)或產(chǎn)品性能變化的實(shí)驗(yàn)設(shè)施。它通常用于評估材料、零部件或成品在高溫和低溫環(huán)境下的穩(wěn)定性、可靠性和耐久性。低溫老化測試實(shí)驗(yàn)室主要包括以下設(shè)備和設(shè)施:步入老化試驗(yàn)室是一種更大型的實(shí)驗(yàn)設(shè)施,用于進(jìn)行物質(zhì)或產(chǎn)品在長時(shí)間內(nèi)的穩(wěn)定性和可靠性測試。與傳統(tǒng)的小型試驗(yàn)箱相比,步入老化試驗(yàn)室具有更大的內(nèi)部空間,可以容納更多的樣品或產(chǎn)品,并且能夠模擬多個(gè)溫度條件。

    更新時(shí)間:2024-10-14型號:DR-H202-12000瀏覽量:451
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